WLP-216平均粒度儀是一種廣泛應(yīng)用于顆粒物料測(cè)量和分析的儀器，適用于各類(lèi)物質(zhì)的粒度分布、顆粒形態(tài)等特性參數(shù)的測(cè)量。主要采用光散射原理進(jìn)行分析測(cè)試。當(dāng)光線照射到樣品中的固體顆粒時(shí)，部分光線被顆粒所折射，部分光線被顆粒所散射。這些散射的光子會(huì)向各個(gè)方向發(fā)散，產(chǎn)生散射光，并呈現(xiàn)出不同的相位差。當(dāng)這些散射光聚集起來(lái)時(shí)，就可以通過(guò)檢測(cè)儀器進(jìn)行信號(hào)捕捉和數(shù)據(jù)計(jì)算。
 

　　多角度散射指的是光線與顆粒發(fā)生散射時(shí)不同角度的變化。不同的角度對(duì)應(yīng)著不同的粒子大小。多角度散射技術(shù)能夠提供更高的散射強(qiáng)度，從而提高粒度檢測(cè)的靈敏度和準(zhǔn)確度。同時(shí)也降低了顆粒形狀對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。樣品在進(jìn)行平均粒度儀測(cè)量之前需要經(jīng)過(guò)一定的處理。在液體顆粒的測(cè)試中，需要進(jìn)行樣品制備，在樣品中加入分散劑以避免顆粒聚集。在固體顆粒的測(cè)試中，需要將顆粒充分研磨或分散以達(dá)到更好的測(cè)試效果。此外，還需要根據(jù)不同的顆粒特性選擇不同的測(cè)試模式和參數(shù)。
 

　　通過(guò)電子信號(hào)輸出的方式得出測(cè)試結(jié)果。由于不同的粒子具有不同的屬性，因此從不同的角度進(jìn)行數(shù)據(jù)的收集，并結(jié)合統(tǒng)計(jì)學(xué)原理進(jìn)行數(shù)據(jù)的加權(quán)平均，得出測(cè)試結(jié)果，包括顆粒尺寸、顆粒形態(tài)等。被廣泛應(yīng)用的先進(jìn)物料科學(xué)測(cè)試儀器之一，它具有高精度、準(zhǔn)確性高、自動(dòng)化程度高等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)也成為了材料科學(xué)研究、生產(chǎn)工藝設(shè)計(jì)和產(chǎn)品質(zhì)量控制的必要工具。

 

　　WLP-216平均粒度儀的維護(hù)保養(yǎng)方法：
 

　　1.在使用過(guò)程中會(huì)受到灰塵、臟污等環(huán)境因素的影響，應(yīng)該定期將設(shè)備清洗干凈。在清潔前需要斷開(kāi)電源，并根據(jù)說(shuō)明書(shū)逐步進(jìn)行拆卸，將內(nèi)部的各個(gè)部件清理干凈，避免出現(xiàn)遺漏。注意不得使插頭與插座接觸部位進(jìn)入水中。
 

　　2.傳感器是測(cè)量?jī)x器精度的關(guān)鍵部件之一。因此，在正式測(cè)量前，需要對(duì)傳感器進(jìn)行檢查，確定其是否正確連接、靈敏度是否合理、觸點(diǎn)是否老化等情況，并進(jìn)行必要的處理。
 

　　3.由于長(zhǎng)時(shí)間使用，性能可能會(huì)發(fā)生變化。定期進(jìn)行儀器校準(zhǔn)以確保儀器始終按實(shí)際要求準(zhǔn)確測(cè)量。在校準(zhǔn)儀器的過(guò)程中，需要用到標(biāo)準(zhǔn)樣品和校準(zhǔn)液，應(yīng)避免雜質(zhì)進(jìn)入樣品中。
 

　　4.對(duì)各個(gè)部件進(jìn)行逐條檢查，例如電纜、插頭等，注意是否有老化或破損現(xiàn)象，確認(rèn)設(shè)備使用情況良好。